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采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统，同时在落射照明系统中设计防反射结构，有效防止反射光干扰成像光线，从而使成像更清晰、视场衬度更好。
提供稳定可靠的操作机构,使成像更清晰,操作更简便。
显微镜镜体采用全新的人机工程学设计，结构匀称，实现镜体扩展积木化。
工作台、光强与粗微调的低位操作，提高了使用的舒适性。
广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领域。
软件功能：
内置全新V3.0版测量系统，新增:自定义界面编辑、自定义模板编辑、Dxf导入模板、文件管理、测量数据导出等功能，操作更智能、更快捷、更强大；
全新系统再次提高图像清晰度；
采用SONY高灵敏度、低噪声SENSOR，性能强大，预览流畅；
采用ARM Cortex A7双核@Max1.3GHz处理器，工作流畅稳定；
内置录像、拍图功能可回显播放；
内置自动寻边功能，提升测量效果；
支持U盘存储功能，可外接鼠标；
