品牌:JG晶格
测量范围:电阻率：1×10-4～2×10^5 Ω-cm
类型:表面电阻测试仪
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| 测量范围 | 电阻率：1×10-4～2×10^5 Ω-cm |
|---|---|
| 类型 | 表面电阻测试仪 |
| 品牌 | JG/晶格 |
| 型号 | A113 |
| 加工定制 | 是 |
————石墨烯薄膜测试仪器方案推荐———
※样品特性：
基材表面厚度极薄的薄膜，附着力差，易损伤，样品普遍面积不大。
※测试难点：
苏州晶格薄膜专用测试探头自带弹簧收缩功能，很好的解决了石墨烯薄膜的测试弱点，自主研发的高精度四探针测试仪和专用型测试台搭配，让样品测试数据更稳定，重复性更好。
※方案要点：
测试探头，首先优选是导电橡胶探针的四探针法。其次是普通薄膜测试探针的四探针法。
测试仪优选低压小电流测试，需要有开路电压限压保护的功能。
整套晶格石墨烯薄膜方阻测试仪器包括：探头、测试台、测试仪。
详情请拨打400-635-7098或在线咨询客服。
